Высококачественный УФ-спектрофотометр с диапазоном 190-1100 нм и программным обеспечением на английском языке. Позволяет измерять УФ/ИК-спектр в видимом диапазоне для твердых тел, тонких пленок, стекла или акрила.

Принцип работы платформенного твердотельного анализатора тонких пленок заключается в использовании явления селективного поглощения веществами света различных длин волн для проведения качественного и количественного анализа веществ. Анализируя спектр поглощения, можно определить структуру и химический состав веществ. Используя высокоэффективную дифракционную решетку для получения монохроматического света, монохроматический свет непрерывно проходит через образец последовательно, и измеряется пропускание образца для каждой длины волны для получения кривой спектра пропускания.

Данный прибор работает по принципу относительного измерения, то есть, выбирается определенный диапазон эталонного воздуха, и его коэффициент пропускания (т.е. коэффициент пропускания T) устанавливается на 100%, при этом коэффициент пропускания исследуемого образца определяется относительно этого эталона. Изменение коэффициента пропускания (коэффициента пропускания T) имеет определенную функциональную зависимость от концентрации измеряемого вещества и в определенном диапазоне соответствует закону Ламберта-Бера.

Принцип работы прибора: Принцип работы платформенного анализатора тонких пленок основан на использовании явления селективного поглощения веществами света различной длины волны для проведения качественного и количественного анализа веществ. Анализируя спектр поглощения, можно определить структуру и химический состав веществ. Используя высокоэффективную дифракционную спектроскопию для получения монохроматического света, монохроматический свет непрерывно проходит через образец последовательно, и для каждой длины волны измеряется пропускание образца для получения спектральной кривой пропускания.

Данный прибор работает по принципу относительного измерения, то есть, выбирается определенный диапазон эталонного воздуха, устанавливается его коэффициент пропускания (т.е. коэффициент пропускания T) на 100%, и коэффициент пропускания исследуемого образца определяется относительно этого эталона. Изменение коэффициента пропускания (коэффициента пропускания T) имеет определенную функциональную зависимость от концентрации измеряемого вещества и в определенном диапазоне соответствует закону Ламберта-Беера.

Характеристики и области применения прибора: профессиональное тестирование твердых образцов, спецификации * * * Малый φ 5,0 мм, сверхбольшой плоский стеклянный образец - толщина 500 * 500 мм: твердые образцы 0,1-100 мм, тонкие пленки, пивные бутылки, архитектурное стекло, сенсорные экраны, текстиль, оценка ювелирных изделий, вакуумное напыление и т. д., измерение оптических характеристик однослойных и многослойных компонентов оконного стекла, самокалибровка при запуске; двухрежимная работа с сенсорным экраном и ПК, подключение к ПК; версия программного обеспечения Win10 Spectral Analyst.

Преимущества: Сверхтонкие, толстые и очень большие образцы из твердого материала, тонкой пленки, стекла или акрила можно непосредственно размещать в горизонтальном положении для проведения испытаний, что удобно, быстро и обеспечивает более точные данные испытаний.